金融界2023年12月22日消息，据国家知识产权局公告，国民技术股份有限公司申请一项名为“一种电磁故障注入的测试装置、测试方法及存储介质”，公开号CN117269740A，申请日期为2022年6月。
专利摘要显示，本申请实施例公开了一种电磁故障注入的测试装置、测试方法及存储介质，用于集成电路领域。测试装置包括：故障注入参数调理单元，用于将电磁故障注入的控制参数信号发送至瞬时电压脉冲发生器；瞬时电压脉冲发生器，用于产生瞬时电压脉冲信号，并将瞬时电压脉冲信号发送至集束型探头尖端中的目标探头尖端；集束型探头尖端，覆盖于待测芯片，用于控制目标探头尖端输出瞬时电磁脉冲信号至待测芯片中与目标探头尖端相对应的目标位置；结果分析及反馈单元，用于采集并分析瞬时电磁脉冲信号注入待测芯片后的执行结果，并将分析结果发送至故障注入参数调理单元，以使故障注入参数调理单元调整控制参数信号，能够提升电磁故障注入测试的效率和准确性。
本文源自：金融界
作者：情报员
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